GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測試驗方法，PDF

GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測試驗方法Silk—Electronic test method for defects and evenness of raw silk
本標準規定了采用電容和光電生絲電子檢測儀對生絲疵點(diǎn)、條干進(jìn)行檢測的試驗方法。
本標準適用于名義纖度在13.3 dtex～76.7 dtex (12 den～69 den)的絞裝和筒裝生絲、浸泡絲。
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2018-3-21 20:58 上傳

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