GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測試驗方法，PDF

GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測試驗方法Silk—Electronic test method for defects and evenness of raw silk
本標準規定了采用電容和光電生絲電子檢測儀對生絲疵點(diǎn)、條干進(jìn)行檢測的試驗方法。
本標準適用于名義纖度在13.3 dtex～76.7 dtex (12 den～69 den)的絞裝和筒裝生絲、浸泡絲。
) s; j% a# ^0 D1 u GBT 35445-2017 絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測試驗方法.zip (805.45 KB, 下載次數: 3)

2018-3-21 20:58 上傳

點(diǎn)擊文件名下載附件
下載積分: 錦 -1

5 G( J% [% m9 @. f$ d
* j7 U* {! P' r6 V- _
4 q5 H- t' F; C) H* I) o